恒溫恒濕低溫箱保質(zhì)二年 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；

  恒溫恒濕低溫箱保質(zhì)二年 各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，操作簡便。

箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。

滿足試驗標準：

 GJB 150.3-1986高溫試驗

 GJB 150.4-1986低溫試驗

 IEC 68-2-1試驗A;寒冷（GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法）

 IEC 68-2-2試驗B:干熱（GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法）
 IEC 60068-2-78試驗Cab:恒定濕熱試驗IEC 68-2-30試驗Db及導則：交變濕熱實驗（GB/T2423.4-1993試驗Cb:交變濕熱）

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